德仪国际贸易（上海）专注于半导体功率器件的测试解决方案，提供全面、高效且精确的测试系统，广泛应用于工业控制、电力电子、新能源汽车及科研领域。以下是公司核心产品系列的详细介绍：
一、半导体功率器件测试系统
该系统覆盖多种功率器件的动静态参数测试，具备高精度测量与自动化控制能力。测试平台支持定制化配置，可满足不同客户的研发与生产需求。核心产品包括：
1. 分离器件测试系统
专为半导体分立器件设计，可测试晶体管、二极管等元件的静态参数（如击穿电压、漏电流）及动态特性。系统采用模块化结构，便于扩展与维护。
2. 大功率MOSFET动静态测试系统
针对大功率MOSFET器件，提供全面的动态参数（如开关时间、栅极电荷）和静态参数（如导通电阻、阈值电压）测试。该系统适用于高功率应用场景，确保器件在严苛环境下的可靠性。
3. IGBT动静态参数测试系统
集成IGBT器件的动态与静态测试功能，可精确测量集电极-发射极饱和电压、开关损耗及温度特性。系统支持多通道并行测试，显著提升生产效率。
4. 大功率晶闸管/GTO/可控硅/闸流管动静态测试系统
涵盖晶闸管、GTO（门极可关断晶闸管）、可控硅及闸流管等器件的全面测试。动态测试包括触发特性与关断时间，静态测试则覆盖阻断电压和维持电流等关键参数。
5. 二极管动态特性与开关特性测试仪
专注于二极管的动态性能评估，如反向恢复时间与开关损耗。该仪器采用高速数据采集技术，提供准确的特性曲线分析，适用于高频应用场景。
二、半导体分立器件测试系统
作为仪器仪表科技的重要组成部分，该系统整合了先进的测量技术与用户友好界面，支持半导体分立器件的全参数测试。通过自动化软件，实现数据记录、分析与报告生成，助力客户优化产品性能与质量控制。
德仪国际贸易（上海）凭借多年技术积累，致力于为客户提供可靠的测试解决方案，推动半导体行业的技术创新与发展。如需了解更多产品详情或定制服务，欢迎联系我们的专业团队。
